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格林SMPS+E扫描迁移率粒度仪

GRIMM开发了SMPS+E系统作为0.8 nm至1094 nm尺寸范围内的纳米颗粒的计数器和施胶器,在广泛的浓度范围内(100至108.颗粒/立方厘米)。

SMPS+E系统包括:

  • 快速低噪声法拉第杯静电计(FCE–格里姆5705型)
  • 高性能差分迁移率分析仪(DMA)
  • DMA控制器(5706型),用于控制DMA电压、FCE的电气设置和气流。

格林独特的FCE设计通过在法拉第杯隔离周围使用冲洗空气,几乎完全避免内部污染。其他静电计的性能通常会下降,因为附着在隔离上的粒子最终会导致较小的泄漏电流。因此,其他静电计需要定期清洁和验证。此外,该仪器的设计使机械冲击和压力变化的影响最小化,可作为校准纳米颗粒计数器的可靠参考。

  • 颗粒的数量和大小介于0.8到1094 nm之间
  • 采样频率高达16 Hz
  • 非常低的噪音水平
  • 冲洗气流以获得最快的响应时间
  • 三种不同的DMA可提供最大的灵活性
  • 紧凑而坚固
  • 无需任何耗材即可运行
  • 完全自动化地使用我们的软件
  • 三个模拟输入
  • 启动时自检确保最高可靠性
  • 气溶胶基础研究
  • 大气成核的研究
  • 气载离子团簇的尺寸分布
  • 高分子研究
  • 纳米技术过程监控
  • 燃烧研究
  • CPC校准的官方参考资料
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